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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20236-11
    布魯克三維X射線顯微鏡在HTPB復(fù)合固體推進劑微觀結(jié)構(gòu)研究中的作用

    固體推進劑是一種具有特定性能的含能復(fù)合材料,該材料是航天、空間飛信器等各種固體發(fā)動機的動力源,在**和航天技術(shù)發(fā)展中扮演著重要角色。其中復(fù)合固體推進劑是以高聚物為基體。混油氧化劑和金屬燃料等組分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料,其宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)。近些年隨著對復(fù)合固體推進劑研究的不斷深入,原有的微觀結(jié)構(gòu)表征方法或由于只能表征二維表面信息,或由于分辨率精度的限制,已不能適應(yīng)該領(lǐng)域研究的更高要求,在這種背景下,三維X射線顯微鏡(3DXRM)憑借能夠在無損研究...

  • 20236-11
    微型模組分類|電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    臺式系統(tǒng)PIDcon可以對微組模塊進行常規(guī)質(zhì)量控制,作為一種快速和低成本的PID敏感性測試,不需要氣候室或其他擴張性工具。小型模組分類電位誘導(dǎo)衰減(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調(diào)查其產(chǎn)品對PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈的早期測試他們的產(chǎn)品,例如在微型模塊上。請注意,這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流(PID-s)導(dǎo)致的太陽能電池的分流。迷你模塊通過2個接觸點進行接觸,并通過接觸檢查確保良好的接觸。PIDStu...

  • 20236-11
    MDP少子壽命測試儀 | 鐵濃度測定

    有了MDPingot和MDPmap系列,就可以全自動地測量磚塊和硅片中的鐵濃度,而且分辨率非常高。鐵硼對解離前后的壽命測量是一種**使用的測定硅片中鐵的方法。在高摻雜濃度的摻硼硅中,因為它被用于光伏應(yīng)用,幾乎100%的電活性鐵以FeB對的形式存在。在有足夠能量的光照下,這些鐵對可以在Fe和B中解離。這個過程是可逆的,在一段時間后,所有的FeB對都會再次結(jié)合。FeB和Fei有不同的重組特性,因此解離對測量的壽命有影響。在這種影響下,鐵的濃度可以通過以下方式確定:對于鐵的測定,使...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格-太陽能電池分類| 電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    太陽能電池分類:圖一:帶EVA箔和玻璃的太陽能電池放置在PIDcon中電位誘導(dǎo)衰減(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測試他們的產(chǎn)品,并調(diào)查封裝材料。因此,太陽能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進行研究。請注意,這里考慮的PID是太陽能電池由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流(PID-s)而產(chǎn)生的分流。為了對太陽能電池進行分類,使用敏感的EVA和玻璃是很...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格|臺式PID檢測儀用于EVA及其它封裝材料的評估

    EVA評估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測量設(shè)置PIDcon可以通過使用一個模擬模塊的樣品堆來調(diào)查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶只需將太陽能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當然,必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進行比較。在圖1所示的例子中,兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

  • 20236-7
    德國弗萊貝格-生產(chǎn)監(jiān)控|電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    根據(jù)IEC62804標準PIDcon的測量設(shè)置PIDcon測量的典型結(jié)果電勢誘導(dǎo)退化(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測試他們的產(chǎn)品,并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對標準生產(chǎn)單元進行常規(guī)質(zhì)量控制,測試新工藝、材料或?qū)拥淖兓?,并對各種模塊步驟進行鑒定。請注意,這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流(PID-s)導(dǎo)致的太陽能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實際上與IEC標準...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格PIDcon bifacial|雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

    論文來源:K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleandirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要:雙面PERC電池背面PID會導(dǎo)致嚴重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比,可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退(PID-p)和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退(PID-c)。研究表明,一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方法,需要在高壓測試上附加光照。此外,還需要在測試方案中...

  • 20234-8
    衍射數(shù)據(jù)庫卡片是晶體學(xué)教育和交流的重要途徑

    衍射數(shù)據(jù)庫卡片又稱為晶體結(jié)構(gòu)卡片或者晶胞卡片,是一種用于描述晶體結(jié)構(gòu)信息的標準化格式。這些卡片通常包含著晶體學(xué)家在分析晶體時所得到的重要數(shù)據(jù),例如晶格參數(shù)、空間群、原子坐標等等。衍射卡片可以作為研究晶體結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ),也可以作為共享晶體結(jié)構(gòu)信息的重要途徑。衍射數(shù)據(jù)庫卡片最初由國際晶體學(xué)聯(lián)合會(IUCr)于1965年提出,并于1985年進行了更新。目前有多個常用的衍射卡片標準,包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

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